工作原理：介质压力直接作用于陶瓷膜片，正常的压力使膜片偏移0.025mm,超压状态也只使膜片偏移0.1mm，此时测量膜片贴到了陶瓷支架上，避免了损坏。膜片位移产生的电容量，由与其直接连接的电子部件检测、放大和转换为标准信号。

E+HP31(平镶隔离膜片型) 表压／**压测量仪表，E+HP31采用扩散硅压阻式压力传感器，模拟量输出，测量精度±0.5%FS，量程100kPa…40MPa